Чтение online
Недоступно
Рейтинг издания
Поделиться:

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация. Учебное пособие

Издательство:
Издательский Дом МИСиС
Авторы:
Бублик В.Т., Щербачев К.Д., Воронова М.И., Мильвидский А.М.
Год издания:
2013
ISBN:
978-5-87623-695-1
Тип издания:
учебное пособие
DOI:

Об издании

В пособии кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассмотренной в качестве основного инструментального метода. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», предназначенному для подготовки магистров и бакалавров по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», а также по направлению подготовки аспирантов 01.04.10 «Физика полупроводников». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», по специальности 150601 «Материаловедение и технология новых материалов».

Библиографическая запись

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : ионная имплантация. Учебное пособие / В.Т. Бублик [и др.].. — Москва : Издательский Дом МИСиС, 2013. — 67 c. — ISBN 978-5-87623-695-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/56052.html (дата обращения: 10.09.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей

РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ

C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ

Этот сайт использует «cookies». Условия использования «cookies» см. в Пользовательском соглашении. Также сайт использует инструменты для сбора технических данных касательно посетителей с целью получения маркетинговой и статистической информации. Условия обработки данных посетителей сайта см. в Политике конфиденциальности. В случае несогласия с обработкой данных, просим покинуть сайт Принять условия