Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Лабораторный практикум
Об издании
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназначен для студентов, обучающихся по направлению 210100 в качестве бакалавров, инженеров и магистров, при выполнении лабораторных работ, подготовке дипломных работ и магистерских диссертаций.
Библиографическая запись
Рабинович О.И. Основы технологии электронной компонентной базы : методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Лабораторный практикум / Рабинович О.И., Крутогин Д.Г.. — Москва : Издательский Дом МИСиС, 2013. — 42 c. — ISBN 978-5-87623-710-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/56231.html (дата обращения: 08.07.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Дворецкий Д.С., Хабарова Е.В., Смолихина П.М., Пронин В.А.
(Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ)
Малыш М.Н., Ткаченко В.А.
(Проспект Науки)
Гамов Е.С., Кукушкина В.А., Чернышова М.И., Хечиашвили И.Т.
(Липецкий государственный технический университет, Профобразование)
Богданов В.В., Бритов В.П., Лебедева Т.М., Николаев О.О., Овечко А.Н., Росинкевич С.Ф., Смирнов Б.Л., Стебловский Г.А., Стригин А.В., Туболкин А.Е., Шаховец С.Е....
(Проспект Науки)
Куликов А.И., Овчинникова Т.Э.
(Профобразование)
Громова Д.С., Павлова О.Н., Павленко С.И., Беляков В.И.
(Ай Пи Ар Медиа)
Змеёв С.И.
(ПЕР СЭ, Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Перхуткин В.П., Перхуткина З.И., Овчарук Т.А., Недух Е.Н., Панюкова М.Л.
(Инфра-Инженерия)