IPR SMART / Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов

Чтение online

Недоступно

Рейтинг издания

Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов. Практикум

Издательство:

Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ

Авторы:

Барабанов В.Ф., Тюрин С.В., Гребенникова Н.И., Акинина Ю.С.

Год издания:

2019

ISBN:

978-5-7731-0778-1

Тип издания:

практикум

DOI:

не присвоен узнать подробнее

Об издании

В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети») при изучении дисциплин «Конструкторско-технологическое обеспечение производства ЭВМ», «Автоматизация проектирования вычислительных систем», «Электротехника и электроника».

Библиографическая запись

Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов : практикум / В.Ф. Барабанов [и др.].. — Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. — 75 c. — ISBN 978-5-7731-0778-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/93252.html (дата обращения: 04.07.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей

РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ

Анализ влияния цифровых технологий на финансовую устойчивость российских компаний

Земляк С.В., Ганичева Е.В., Гусарова О.М., Комаров П.И., Крамлих О.Ю., Науменков А.В., Ноздрева И.Е., Попова В.В., Прохоренков П.А., Сивакова С.Ю., Титов Ю.М., Тищенкова Г.З., Хроменкова Г.А....

(Дашков и К)