Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Об издании
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Библиографическая запись
Горлов М.И. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий / Горлов М.И., Сергеев В.А.. — Ульяновск : Ульяновский государственный технический университет, 2020. — 471 c. — ISBN 978-5-9795-2000-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/106117.html (дата обращения: 05.10.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Гришина Т.Г., Толкачева И.М.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Гришина Т.Г., Толкачева И.М.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Белов П.С., Драгина О.Г.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
(Ай Пи Ар Медиа)
Балыклова К.С., Власов А.М., Гегечкори В.И., Горпинченко Н.В., Карташов В.С., Касумова К.В., Кокорекин В.А., Кузина В.Н., Медведев Ю.В., Передеряев О.И., Печенников В.М., Прокофьева В.И., Раменская Г...
(Лаборатория знаний)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Басюк В.С., Казакова Е.И., Брель Е.Ю., Врублевская Е.Г., Галактионова Т.Г., Илюшин Л.С., Минюрова С.А., Азбель А.А., Белоусова Н.С., Кондракова И.Э., Писаренко И.А., Пугач В.Е....
(Просвещение)
Дежурный Л.И., Неудахин Г.В., Шубина Л.Б., Грибков Д.М.
(Просвещение)
Александрова О.М., Аристова М.А., Беляева Н.В., Критарова Ж.Н.
(Просвещение)
Добротина И.Н., Киселева Н.В.
(Просвещение)
Мякишев Г.Я., Синяков А.З.
(Просвещение)