IPR SMART / Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

Чтение online

Недоступно

Рейтинг издания

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

Издательство:

Ульяновский государственный технический университет

Авторы:

Горлов М.И., Сергеев В.А.

Сведения об ответственности:

ред. Горлова М.И.

Год издания:

2020

ISBN:

978-5-9795-2000-1

Тип издания:

монография

DOI:

не присвоен узнать подробнее

Об издании

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

Библиографическая запись

Горлов М.И. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий / Горлов М.И., Сергеев В.А.. — Ульяновск : Ульяновский государственный технический университет, 2020. — 471 c. — ISBN 978-5-9795-2000-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/106117.html (дата обращения: 23.11.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей

РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ

Агропромышленный комплекс России: Agriculture 4.0. В 2 томах. Т. 2. Современные технологии в агропромышленном комплексе России и зарубежных стран. Сельское хозяйство 4.0. Цифровизация АПК

Абрашкина Е.Д., Агирбов Ю.И., Андреев О.П., Ариничев В.Н., Ашмарина Т.И., Бритик Э.В., Горбачев М.И., Грачев А.Б., Дрямов С.Ю., Евграфова Л.В., Егоров А.А., Ивакина Е.Г., Кабдин Н.Е., Каратаева О.Г.,...

(Ай Пи Ар Медиа)