IPR SMART / Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда

Чтение online

Недоступно

Рейтинг издания

Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда. Лабораторная работа. Учебное пособие

Издательство:

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Авторы:

Исаенкова М.Г., Крымская О.А., Перлович Ю.А.

Год издания:

2019

ISBN:

978-5-7262-2376-6

Тип издания:

учебное пособие

Гриф:

УМО

DOI:

не присвоен узнать подробнее

Об издании

Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов. Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».

Библиографическая запись

Исаенкова, М. Г. Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда : лабораторная работа. Учебное пособие / М. Г. Исаенкова, О. А. Крымская, Ю. А. Перлович. — Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2019. — 32 c. — ISBN 978-5-7262-2376-6. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/116423.html (дата обращения: 13.12.2022). — Режим доступа: для авторизир. пользователей