Физические основы современных методов исследования материалов. Учебное пособие
Об издании
Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
Библиографическая запись
Рогачев Е.А. Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е.А.. — Омск : Омский государственный технический университет, 2021. — 88 c. — ISBN 978-5-8149-3367-6. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/124891.html (дата обращения: 22.11.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Абрашкина Е.Д., Агирбов Ю.И., Андреев О.П., Ариничев В.Н., Ашмарина Т.И., Бритик Э.В., Горбачев М.И., Грачев А.Б., Дрямов С.Ю., Евграфова Л.В., Егоров А.А., Ивакина Е.Г., Кабдин Н.Е., Каратаева О.Г.,...
(Ай Пи Ар Медиа)
Андронова Н.Э.
(Дашков и К)
Алексеев Г.В., Холявин И.И.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Федоркина И.А., Яблочников С.Л., Толстых А.С., Пундик М.А.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Гамов Е.С., Кукушкина В.А., Чернышова М.И., Хечиашвили И.Т.
(Липецкий государственный технический университет, Профобразование)
Королёв В.Т., Черных А.М.
(Российский государственный университет правосудия)
Ерофеева В.В., Глебов В.В., Яблочников С.Л.
(Ай Пи Ар Медиа)
Погонцева Д.В.
(Издательство Южного федерального университета)
Головач Е.И., Кохан М.Н., Радецкий Е.Н.
(Народная асвета)