IPR SMART / Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Чтение online

Недоступно

Рейтинг издания

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Издательство:

Лаборатория знаний

Сведения об ответственности:

ред. Жу У., Уанга Ж.Л., Каминской Т.П., пер. Иванова С.А. и Домкина К.И.

Год издания:

2021

ISBN:

978-5-00101-142-2

Тип издания:

учебное пособие

DOI:

не присвоен узнать подробнее

Об издании

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.

Библиографическая запись

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / под редакцией У. Жу [и др.]. — 4-е изд. — Москва : Лаборатория знаний, 2021. — 599 c. — ISBN 978-5-00101-142-2. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/88490.html (дата обращения: 13.06.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей