Сканирующие зондовые микроскопы. Справочник
Об издании
Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях. Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим нано-устройства.
Библиографическая запись
Казаков, В. Д. Сканирующие зондовые микроскопы : справочник / В. Д. Казаков. — Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. — 108 c. — ISBN 978-5-9729-1731-0. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/143405.html (дата обращения: 21.09.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Иванов Ю.А., Башков В.М., Шашурин В.Д., Федоркова Н.В.
(Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Внуковская А.В., Резникова А.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
Димитриев А.Д., Димитриев Д.А.
(Вузовское образование)
Хоробрых Э.В., Полоник С.С., Литвинчук А.А., Замятина М.Ф., Пунгина В.С., Фесенко Р.С., Измайлович С.В.
(Белорусская наука, Институт экономики НАН Беларуси)
Альперович В.Д.
(Издательство Южного федерального университета)